1.       试验环境基本信息

本次试验配置如下：

1.1  服务器配置：

Ÿ   CPU：Intel 5218 *2

Ÿ   内存： 8*32G

Ÿ   网卡： 2*10GE+2*GE

1.2  试验SSD数量

本次试验产品主要为忆联自研的企业级UH8系产品，试验SSD数量共为12块。涵盖了UH810a、UH830a、UH811a、UH831a等企业级固态硬盘。

1.3  中子注量率

本次试验中子注量率为2.67*10⁵n/( cm²·s)。

在国内地面条件下，阿里地区作为中子量最多的地区之一，中子注量率约为509n/ (cm²·h) (En≥1MeV) 。在不间断接受中子辐照的条件下，SSD在本次试验条件下接受到的累计中子注量远超国内地面可接收的最大累计中子注量（对比示例如图2）。

   图2：累计中子注量对比图

2.       试验过程及结果

图3：试验环境整体示意图   

  图4：试验现场监测图

2.1  试验过程

Ÿ   所有盘片均在同一中子注量率下进行辐照，以中子辐照注量率达到试验要求为开始，以盘片功能失效为结束，通过自动化试验脚本记录运行时间；

Ÿ   5块SSD为一组，本次试验一共完成3组；

Ÿ   试验人员在监测室实时监测SSD运行状况，并进行统计。

2.2  试验结果

（1）部分单盘实测结果

             图7：UH810a/UH830a单盘实测情况-2                                                              图8：UH811a/UH831a单盘实测情况-2

(2)  详细运行时间统计

序号	SSD型号	运行时间/min	平均运行时间/min	总平均时间/min
1	UH810a/UH830a	28	6.5	11.7
2		10
3		3
4		2
5	UH811a/ UH831a	99	12.3
6		16
7		14
8		3
9		5
10		0
11		4
12		32
注1：平均时间=有效SSD运行时间之和/有效试验盘片数（排除最高及最低运行时间） 注2：统计中的“运行时间”为在中子辐照下SSD可正常读写的持续时间。

从试验结果可知，UH8系产品在同一中子注量照射下，最低平均运行时间为6.5分钟，总平均运行时间为11.7分钟。

3.       试验数据分析

忆联SSD一般寿命为5年，以阿里地区中子注量率为基准的条件下，忆联SSD在5年内累计中子注量为2.23E+07 n/ cm²。在实验室条件下，忆联SSD为达到5年寿命，需在2.67*10⁵ n/( cm²·s) 中子注量率下，运行时间达到83s。

在本次实验中，忆联UH8系SSD平均运行时间为11.7分钟，验证忆联UH8系SSD在较高的中子通量自然环境条件下，在5年寿命条件下可正常运行，具备抵抗一定中子辐照的高可靠性。